1）不锈钢样品池及高精度石英材质光学窗口，FE3000设备，光学透过率大于98%，全波段无荧光反应，大塚FE3000，用于固体、粉末及薄膜样品测试（数量5个），FE-3000，尺寸直径≤10mm

     2）高精度石英材质液体比色皿，光学透过率大于98%，FE，全波段无荧光反应，用于液体样品测试（3个）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     3）具有专用的液体容器定位装置，可实现入射光垂直入射到容器表面。

FE3000反射式膜厚量测仪：原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。

应用范围■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有机EL)

■ 半导体、复合半导体

?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料

■ 资料储存

?DVD、磁头薄膜、磁性材料

■ 光学材料

?滤光片、抗反射膜

■ 平面显示器

?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

大塚FE3000|大塚电子公司|FE由大塚电子(苏州）有限公司提供。大塚FE3000|大塚电子公司|FE是大塚电子(苏州）有限公司（www.otsukael.com.cn）今年全新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取新的信息，联系人：密先生。