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X荧光测厚仪可调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示:X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,镀层测厚仪,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,x 射线镀层测厚仪,成为自由电子,这时原子被激发了,菲希尔镀层测厚仪,处于激发态。此时,其他的外层电子便会填补这一空位,x射线金属镀层测厚仪,即所谓的跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。
X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理
由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。