X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用

1．一般要求

   使用可靠的参考标准块校准仪器。最后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。

   参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，测厚仪，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。

金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，x射线金属镀层测厚仪，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。

2．标准块的选择

可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，x ray型镀层测厚仪，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。

3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用

   校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。

如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，x射线测厚仪工作原理，然后通过软件达到对仪器的校正。

下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

  无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

  微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

  接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

  精密微型滑轨：快速精准定位样品。

  EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

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