x射线金属镀层测厚仪

x射线金属镀层测厚仪厂家

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常规镀层厚度分析仪的原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,测厚仪,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,电镀层测厚仪,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。








-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统,x射线金属镀层测厚仪,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

7计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。

8分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:SmartLinkFP软件包


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