FE3000反射式膜厚量测仪:产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，大塚FE3000，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。

可在软件上设定激发光源的波长及步值，实现自动测量

电流-量子效率曲线

电流-光通量曲线

电流-功率曲线

电流-色温曲线

电流-色坐标曲线

电流-显色性曲线

电流-电压曲线

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

半积分球。大塚电子独有专利，提高积分球测试效率一倍，FE膜厚仪，更易于样品的装夹，FE，切换迅速（世界范围内独i家）；(2)多次激发修正。大塚电子独有专利，最i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发， 对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内独i家）；(3)光谱可扩展，FE3000厂家， 光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升级配备控温系统（-30℃-300℃）

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基本规格

(1) 测试样品及环境

(a) 样品：粉状样品

(2) 仪器的功能

(a) 激发荧光样品，对荧光光谱进行测试。

(b) 为了消除积分球内反射的激发光而激发的荧光，配有“再激发修正”功能。

(c) 具有对样品的量子效率、反射、吸收作测试的功能。

(d) 样品设置采用手动方式。

(e) 可实现控温和量子效率测试同步进行的功能。

(3) 仪器的构成

(a) 暗箱内部置有积分球光学系统。

(4) 温控单元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加热器加热、风冷制冷。

(c) 温控部分的周围采用冷却水循环、断热。

(d) 控制用温度探头是一个具备独立的防止过度升温的温度探头。

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