非接触式三坐标测量的主要缺点：

(1) 因为非接触式测头大多是接收被测件表面的反射光或散射光，容易受到被测件表面的反射特性的影响，如颜色、斜率等；

(2) 测头容易受到环境光线及杂散光影响；

(3) 非接触式测量只做被测件轮廓坐标点的大量取样，不能进行面上指1定点的测量，对边线及凹孔等的处理比较困难；

(4) 使用光学测头测量时，测量镜头的焦距调整会影响测量精度；

(5) 被测件表面的粗糙度会影响测量结果；

(6) 光学阴影处及光学焦距变化处是测量死角。

典型的三坐标测量仪探测系统包含四部分：测头，测头扩展部，手动三坐标测量机，探针调整或扩展部，探针。

   1、测头

   可用的测头类型包括铰接，三坐标测量机，非铰接以及手动或机动。手动铰接测头需要使用者的干预，这样需要在结合点处暂停部件程序，进而会增加计算机直接控制的测量时间，并影响测量的精1确度。测头的选择应该考虑目标精1确度。

   2、测头扩展部

   测头扩展部的选择取决于所需要的测量类型，测量精度，所使用的探针的质量和长度和探针连接部位的刚度。测头扩展部位于测头和接触触发器之间。

   3、探针扩展选择

   探针扩展和适配器可以使测量帮助测头探测难以到达的地方。所用的部件包括转向节，五路探针中心，车间型超高速三坐标测量机，简单扩展以及可以允许探针连接不同螺纹尺寸的M3/M2和M5/M4适配器。必须注意的是如果所使用的探针比螺纹尺寸小会导致探针的刚度不足降低测量精度。使用比测头螺纹尺寸大的探针容易引起触头的错误触发。

   4、探针的选择

   对于探针的选择主要需要考虑两点，即满足探针接触的要求，对于工件上所有点的测量没有干涉，在接触点保持可重复性。

现代工业的发展，对机械零部件的形状要求愈来愈复杂，超高精度固定桥式三坐标测量机，随之也要求有快速可靠的测量方法与之配合。三坐标测量机(CMM)作为一种高效率的精密测量仪器，顺应了这一要求，因而广泛应用在机械制造、仪器制造、电子工业、航空和国防各部门。特别适合于测量箱体类零件、模具、精密铸件、汽车外壳、发动机零件、凸轮及飞机型体等带空间曲面的零件。由于它的通用性强、测量范围大、精度高、效率高、性能好、能与柔性制造系统相连接，已成为一类大型精密仪器，为此本文将就三坐标机测量技术与传统测量技术的区别进行分析。

   传统测量技术

   1、对工件需要进行人工的准确及时的调整

   2、需要多种专用测量仪和多工位测量，很难适应测量任务的改变

   3、与实体标准或运动标准进行测量比较

   4、尺寸，形状和位置测量需要在不同的仪器上面进行测量

   5、产生大量不相干的测量数据

   6、需要手工记录测量数据

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