CCD和CMOS的参数对比

1、坏点数

由于遭到制造工艺的限制，关于有几百万像素点的传感器而言，一切的像元都是好的情况几乎不太可能，坏点数是指芯片中坏点（不能有效成像的像元或相应不分歧性大于参数允许范围的像元）的数量，坏点数是权衡芯片质量的重要参数。

2、 光谱响应

光谱响应是指芯片关于不同光波长光线的响应才干，通常用光谱响应曲线给出。

从产品的技术展开趋向看，无论是CCD还是CMOS，其体积小型化及高像素化仍是业界积极研发的目的。由于像素尺寸小则图像产品的分辨率越高、明晰度越好、体积越小，其应用面更普遍。

传感器CCD和CMOS的主要参数

1. 像元尺寸

像元尺寸指芯片像元阵列上每个像元的实践物理尺寸，通常的尺寸包括14um，差分传感器ic，10um， 9um ， 7um ， 6.45um ，3.75um 等。像元尺寸从某种水平上反映了芯片的对光的响应才能，像元尺寸越大，可以接纳到的光子数量越多，在同样的光照条件和曝光时间内产生的电荷数量越多。关于弱光成像而言，振动传感器ic，像元尺寸是芯片灵活度的一种表征。

2. 灵活度

灵活度是芯片的重要参数之一，它具有两种物理意义。一种指光器件的光电转换才能，与响应率的意义相同。即芯片的灵活度指在一定光谱范围内，单位曝光量的输出信号电压（电流），角度传感器ic，单位能够为纳安/勒克斯nA/Lux、伏/瓦（V/W）、伏/勒克斯（V/Lux）、伏/流明（V/lm）。另一种是指器件所能传感的对地辐射功率（或照度），与探测率的意义相同，。单位可用瓦（W）或勒克斯（Lux）表示。

传感器的作用是什么，传感器实际上是一种功能块，茂名传感器ic，其作用是将来自外界的各种信号转换成电信号。传感器所检测的信号近来显著地增加，因而其品种也极其繁多。

　　为了对各种各样的信号进行检测、控制，就必须获得尽量简单易于处理的信号，这样的要求只有电信号能够满足。电信号能较容易地进行放大、反馈、滤波、微分、存贮、远距离操作等。因此作为一种功能块的传感器可狭义的定义为：“将外界的输入信号变换为电信号的一类元件。”

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