测试项目：样品相结构、表面应力分析  

    测试范围：粉末样品、固体样品的物相分析、微量相分析、薄膜分析、高温衍射、应力测量、晶粒度、晶胞参数等的测定

主要技术指标：

    超高频电压发生器，高压稳定度：0.005%

    转动方式：θ/θ模式和2θ模式

    角度重现性：+/- 0.0001 度

    探测器: ⑴X’Celerator超能探测器, 微型探测器数量超过100个 ⑵正比探测器

    光路：聚焦光路用于块材料，平行光用于表面相分析

    样品台：多功能样品台应用于各种形状和较大尺寸成品试样；高温样品温度变化（室温—1200℃）