产品型号:CB-2000
全新的一体化设计,具有优异的光学成像质量,方便使用的正像光学系统,是理想的检测半导体器件的工具,支持
3种激光波长,可在半导体和液晶基板中使用激光切割和薄膜技术。可以广泛应用于半导体、电子、冶金等行业的制造和研究领域。
技术参数:
光学系统:
UCIS无限远色差独立校正光学系统
观察筒:
铰链式双目,30°倾斜,360°可旋转,瞳孔距调节范围:52-75mm(48-75mm可选),视度可调
目镜:
高眼点大视野平场目镜,WF10X/20mm
物镜:
无限远长工作距离金相平场消色差物镜10X、20X(S)、50X(S)、80X(S)
转换器:
内倾式5孔转换器
载物台:
156*138mm双层复合式机械移动平台,移动范围:76*54mm
调焦机构:
低位粗动同轴调焦手轮;微动手轮0.1mm/转,格值0.001mm;微调格值越小,调焦越清晰。
粗动松紧可调,14mm/转;工作台上限位装置,大行程20mm
照明装置:
12V50W卤素灯反射照明,亮度可连续调节。可选配12V100W卤素灯照明。
摄像接头:C-Mount接头