应DDR2单面内存条测试治具 
产品特点及性能参数:
◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试所有内存IC（宽度≤12MM）；
◆有球无球均可测试（只需更换上盖的IC压板）；
◆采用手动翻盖式结构，操作方便；
◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损坏锡球；
◆高精度的定位槽，保证IC定位精确，测试效率高；
◆测试准确性高，大大减少误判率；
◆采用进口双头针，探针可更换，维修方便，成本低；     
◆绝缘材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框铝合金材料制作；
◆测试频率可达1066M Hz；
◆测试寿命长，有效测试10万次以上；
◆内存条测试治具测试规格：DDR2X8
一次性可测试8颗内存颗粒；
◆可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具
◆可以免费提供相关的技术支持。
产品服务：
※半年免费保修（人为损坏除外）。
※保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。
※可以免费提供相关的技术支持。