ST2253型数字四探针测试仪数字式四探针测试仪四探针电阻测试仪四探针方阻测试仪四探针电阻率测试仪

概述

    2.1基本功能和依据标准：

   ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。

2.2 仪器成套组成：由ST2253四探针主机、选配的四探针探头、四探针测试台以及ST2253型四探针测试软件等部分组成。

2.3优势特征：

1) 带电脑软件，可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。荣获国家专利权作品，专利号：软著登字第07928553号

2) USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式，这些端口一般电脑都难配了！

3) 8档位超宽量程，行业领先。同行一般为五到六档位。

4) 可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。

5) 操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码开关输入，简便可靠而且免除模拟电位器式的不稳定易受干扰。

2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》

1) 配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；

2) 配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。

3) 配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。

4) 换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。

2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》

四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。

二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.

平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。

2.6适用范围：仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

三、基本技术参数

3.1  测量范围

电  阻：1×10^-4～2×10⁵ Ω   ，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω

电阻率：1×10^-4～2×10⁵ Ω-cm，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω-cm

方  阻：5×10^-4～1×10⁶ Ω/□，分辨率：5×10^-5～1×10² Ω/□

3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

直    径：SZT-B/C/F测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.

长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.

测量方位: 轴向、径向均可