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商品详情描述

日本电测 CT-3型电解式膜厚计

仪器特点：

1、各种镀层(多层、合金)的精密测量；
2、除平板形外，还可以通过提供的图表测量圆形、棒形（细线）等各种形状
3、可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层；
4、可制作非破坏式膜厚仪的标准板；
5、可检查非破坏式膜厚仪的测量精度;
6、全部开关都为旋转式，简单易懂，操作及保养容易。
7、标准板校正值的计算和设定可自动进行；
8、三档测量速度, 可以准确测量极薄镀层厚度，可测量线材镀层厚度
9、可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层;
10、独特的测量台是利用条形弹簧方式,使操作方便简单.

仪器规格：

测试范围	0.006～300 μm
Min解析度	0.001 μm（1nm）
准确度	±1％
测量面积	Φ3.4mm、Φ2.4mm、Φ1.7mm
电解速度	125、12.5、1.25nm/sec
测量单位	um、nm、二种
灵敏度调节	5段可调
尺寸	200（W）×150（H）×150（D）mm
重量	2.8 kg
误差可校正范围	±15％
使用电压	AC110V（220V）/50,60Hz

测量对象：

可测金属镀层	金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、 Cd、锡、铅、铜、钴、镍、铁、多重镍、黑铬
可测合金镀层	锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金、铜锡合金、铁锡合金

上海益朗仪器有限公司现货供应日本电测 CT-3型电解式膜厚计.如需购买，请联系我们。

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