清洁度检测系统CCM-200C

清洁度检测系统CCM-200C厂家

厂商 :上海蔡康内窥镜事业部

地址 :上海市 上海市
主营产品 :光学显微镜 金相制样设备 工业内窥镜 端淬试验机 高温热台 金相磨抛机 金相磨平机 金相抛光机
联系电话 :13524527724
商品详情描述
清洁度检测系统CCM-200C(全自动清洁度分析仪
一:蔡康清洁度检测仪概述和微孔滤膜法测定清洁度:
    A.蔡康CCM-200C普通型清洁度检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸,通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小,与CCM-100C型的清洁度检测系统的差别在CCM-200C型是智能型,可以通过电脑任何控制平台,因此对于需要精准计算机控制的可以采用CCM-200C,而一般清洁度要求不是非常高的,如检测最大颗粒,或者颗粒较大而且数量不多可以采用CCM-100C手动型。
蔡康清洁度检测系统的特点:
1)光学系统采用平行光系统,视场范围大,景深宽,设计考虑到防尘,防油,防水,防霉,日常维护少。 
2)蔡康清洁度检测系统可以直接连接计算机,直接在计算机上进行操控,观察,测量。
3)本系统可采取动态测量,颗粒轮廓动态显示,定制化数据报告,图文并茂。
B.清洁前准备工作(清洗与称重):
1)引用标准:IS0/16232、VDA/19、ISO4406/4407、GB/T 3821-2005《中小功率内燃机清洁度测定方法》
2)使用设备:10L不锈钢压力罐、真空压力泵、、砂芯抽滤瓶、电热鼓风干燥箱、通风柜、电子天平(0.1mg)
3)化学清洗剂:NY120溶剂油、无/水乙/醇、95%乙/醇、蒸馏水或脱矿物质水、AP760等;
4)过滤膜:依据所选用清洗溶剂不同,常用的滤膜材质有:尼龙膜(NYL)、聚四氟乙烯膜(PTFE)、混合纤维素脂膜(MCE)、聚碳酸酯膜(PC)等;0.45μm——用于初始溶剂过滤及喷抢管路溶剂过滤;5、8、10、20μm——用于清洗后颗粒过滤;
5)操作步骤: 
先将浸泡过的空白滤膜放入培养皿中烘箱内,烘干后置于干燥皿中自然冷却称重,最后记录空白滤膜及培养皿的重量。 
清洁度检测工作包括抽样、解体、清洗、过滤、烘干、分析等内容,工作程序如下图所示。
(1)清洗:将工件置于清洗槽上方,将烧杯的接收器置于洗槽漏斗下方,收集所有的清洗液。打开通风装置及加压装置,手持喷抢开始对工件指定位置进行清洗(清洗过程应避免清洗液溅出槽外)。使用完毕后,继续开喷抢将罐内剩余清洗液全部压出
(2)过滤:将专用滤膜放在滤杯与砂芯之间夹紧,将待过滤的溶剂倒入滤杯内。过滤应尽可能抽干清洗液,以减少烘干恒重时间,同时防止膜面残留挥发性清洗液过多而导致烘干时发生危险。 
(3)烘干:将滤膜连同滤出的杂质一起放入培养皿中,放入烘箱内烘干,结束后置于干燥皿中自然冷却后称重两次。 
(4)称量:将经过烘干冷却的带有杂质滤膜的培养皿放在天平上称量,读数精准到
0.1mg;解体过程中的收集的异物也需进行称重。过滤后的滤膜与空白滤膜的重量差即为工件杂质重量。 
(5)清洁度分析:将待检滤膜使用滤膜夹具置于电动平台上,依据相关检测标准中要求的颗粒大小,选用适合的放大倍率及检测标准。设定扫描区域后,系统自动进行滤膜扫描拼图,并依据标准对颗粒进行自动分析统计,集成的报告工具自动生成基于标准或客户模板的标准文档。
备注(显微颗粒计数法):ISO/16232、VDA/19标准中关于显微颗粒计数法做相关的介绍说明。首先先来一起了解相关显微计数法的基本原理:依据ISO/16232标准中所规定的方法,对从测试部件上清洗颗粒所用的清洗液在滤膜过滤器上进行过滤,然后用显微技术对分离的颗粒进行计数和粒度分析。
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