半导体特性测试仪

半导体特性测试仪厂家

厂商 :西安天光测控技术有限公司

地址 :陕西 西安市
主营产品 :IGBT参数测试 MOSFET参数测试 晶体管图示仪 高温反偏测试 SiC碳化硅器件测试 热阻测试仪 MOSFET反向恢复 元器件静态参数测试
联系电话 :15596668116
商品详情描述
产品参数
品牌:其他 型号:ST-DC200 加工定制: 类型:其他
产品特点


半导体特性测试仪 (ST-DC2000_X 系列) 可测试 19大类27分类 的大中小功率的半导体分立器件及模块的静态直流参数,(测试范围包括Si(硅)/SiC(碳化硅)/GaN(氮化镓)材料的IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件)高压源2000V ,大电流源 50~1250A,分辨率高至1mV / 10pA 支持曲线扫描图示功能,029-87309001/垂询



产品实拍
西安天光测控技术有限公司

IGBT参数测试 MOSFET参数测试 晶体管图示仪 高温反偏测试 SiC碳化硅器件测试 热阻测试仪 MOSFET反向恢复 元器件静态参数测试

公司简介


西安天光测控技术有限公司  是一家专业从事 半导体功率器件测试设备 研发、生产、销售的高新技术企业。产品有半导体分立器件测试筛选系统。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的电参数及可靠性和老化测试。静态单脉冲(包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数)动态双脉冲(包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg)Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。环境老化测试(包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等)热特性测试(包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等)各类全系列测试设备。广泛应用于半导体器件上游产业(设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板)和下游产业(院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等元器件的应用端产业链)。


公司团队汇集了来自国内著名院校及电力电子行业的专家教授。拥有众多国际领先的革命性创新技术和专利。产品成熟可靠,久经市场考验,在替代进口产品方面有着突出的优势。公司从产品到服务,从技术咨询到现场支持,可覆盖功率器件的初始研发到规模化生产的整个领域。


展望未来,公司将全力发挥自身技术优势,为客户提供全方位专家级的技术支持以及更多的经典产品。


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手机:18092643147    QQ:510640941

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