半导体分立器件测试仪基础配置： 技术参数 ENJ2005-B型 主极电流 100nA-50A 扩展电流 100A、500A、1000A、1300A 电压分辨率 1mV 电流分辨率 1nA(可扩展至10pA) 测试精度 0.2%+2LSB 测试速度 0.5mS/参数 半导体分立器件测试仪 是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列： 序号 测试元件类别 别称 1 二极管 DIODE 2 晶体管 TRANSISTOR（NPN型/PNP型） 3 J型场效应管 J-FET 4 MOS场效应管 MOS-FET 5 双向可控硅 TRIAC 6 可控硅 SCR 7 绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT 8 硅触发可控硅 STS 9 达林顿阵列 DARLINTON 10 光电耦合 OPTO-COUPLER 11 继电器 RELAY 12 稳压、齐纳二极管 ZENER 13 三端稳压器 REGULATOR 14 光电开关 OPTO-SWITCH 15 光电逻辑 OPTO-LOGIC 16 金属氧化物压变电阻 MOV 17 固态过压保护器 SSOVP 18 压变电阻 VARISTOR 19 双向触发二极管 DIAC