X射线检测装置XDR-AZ350，是一款 43 x 36 厘米的便携式 X 射线平板探测器，可用来替换现有放射成像中应用的标准胶片暗盒。此探测器旨在用于移动系统中，但也适合在现有的 14 x 17 英寸架成像系统中使用。4336DR 拥有 3052 x 2540 像素的有效区域。可用于透视铜管、陶瓷瓷杯、竹木制品、薄金属、工业元器件、纤维、塑料、橡胶等介质的检测，电子元件半导体元器件,BGA,IC芯片,CPU, 电子元件电热丝,发热盘,热敏电阻,电容,集成电路,电路板等无损检测.检测电子元件内部是否变形、脱焊；空焊等,还可用于塑料汽泡等检测, 仪器特点： X射线检测装置用于，孔径、测厚、 连接器的微观形态测试等。 仪器技术参数： 1、数字成像视场: 350X430mm 2、像素间距：140um；（高分辨率成像系统） 3、间距：200-600mm； 4、A/D转换；16/bits 5、空间分辨率；3.6.LP/mm（高分辨率）