FISCHER X-RAY 膜厚仪。采用真正的基本参数原理（FP）来测量厚度，
    電動的X/Y 桌可以在測量門打開時變速移動X/Y 桌出來給操作員
放置樣品及關閉測量門時移動X/Y 桌變速返回到測量位置。
高解像彩色攝影機配合強大的放大倍數功能使樣品的對位十分容易及在測量中
也可以監視測量的位置。如型號配備了可編測量位置的儀器更有雷射對位裝置
來更快速及準確對準樣品的位置測量。
開槽式的測量室設計，這可使大塊及平坦的樣品，比測量室還大的，例如：電路板，也可以測量。
在整體操作上，在簡易操作及強大功能的電腦WinFTM?軟件下，所有的測量數據的統計可以十分清楚地表達出來。
XDL 系列的光譜的儀器，符合德國的出口規定
 WinFTM?V.6 LIGHT 軟件是儀器的基本操作
軟件，此軟件可以同時間測量最多至四層鍍
層、或是進行多至5元素的合金分析、又或是
最多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。联系人：谢R 13691938370    电话：0755-29371652  传真：29371653            QQ:1162400920
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