非晶硅薄膜组件测试仪

非晶硅薄膜组件测试仪厂家

厂商 :北京羲和阳光科技发展有限公司

地址 :北京 北京
主营产品 :自动41点测厚仪 碳氧含量测试仪 硅芯电阻率测试仪 硅片红外探伤仪 硅片电阻率测试 硅料检测分选仪 手持式电阻率测试仪 少子寿命测试仪
联系电话 :18618315708
商品详情描述
一、设备主要用途:适用于太阳能单晶,多晶,非晶及各种太阳能电池组件的电性能参数的测试和结果记录。
二、技术指标
1、设备主要技术指标
1.1、模拟光源
a、大功率脉冲氙灯
b、光谱范围符合IEC60904-9光谱辐照度分布要求AM1.5     A
c、光强100mW/cm2(调节范围70120mW/cm2
d、光强不均匀度≤2%              A
      e、辐照不稳定度 ≤2%             A 
f、氙灯德国进口
g、具有闪光次数记数功能(更换归零重置)
h、出光方下打光向上投射
i、氙灯闪光时间10ms
1.2、测试范围
a、有效测试面积:2000mm×1000mm
b、有效测试范围:2W300W
c、测量电压:0V/30V/100V分辨率1mV     量程1/16384
d、测量电流:0m A2A/20A(分辨率1mA  量程1/16384
e、测量温度:15℃35℃(分辨率0.1℃
1.3、测试精度
a、测试重复精度:±0.5%
1.4、测量方式:四线测量
1.5、测试参数:IscVocPmaxVmImFFEFFTemp RsRsh
1.6、测试间隔时间:5/
1.7、数据采集: I-V曲线含8000个数据采集点
1.8、测试条件校正:自校正装置(包括手动输入补偿参数、自动/手动温度补偿、     光强自动补偿)
1.9、温度测量
a、半导体温度探头自动检测测试环境温度
b、温度补偿和显示
c、可对测试温度进行温度修正
1.10、测试结果
a、显示测试时间和图形化参数(I-V特性曲线)
b、测试结果具备折算到标准测试条件下的能力
c、测试结果语音报数和语音提示
1.11、测试报告
a、当前工作界面显示并可记录I-V特性曲线
b、可将所有组件的主要测试参数保存到硬盘的指定文件
c、指定的文件可以自主命名
1.12、数据汇总与打印
a、根据设定时间段或随时进行数据汇总
b、以Excel格式打印(包括I-V特性曲线累计输出)
1.13、专用软件
a、温度补偿系数输入
b、日期名称行列数输入
c、序列号起始设置自动递增
d、不良品参数范围设置
e、中英文界面切换和中英文内容打印
1.14、工作时间:设备可连续工作12小时以上
1.15、使用电源:单相220V / 50Hz / 2kW
1.16、设备外观尺寸:2500mm×1500mm×900mm
1.17、设备重量300 kg
2、设备整机配置
2.1 测试主机(含电子负载):一台
2.2 光源:一套
2.3 计算机:一台
2.4 14位同步高速A/D板卡:一块
2.5 专用测量软件:一套
2.6 打印机(A4喷墨彩色打印机):一台
2.7 标准电池(用于调整光强和校正光强均匀度安装与测试仪内部)二片
2.8 水平滚轮测试滑道  一套
 
三、设备性能指标:
  1.光源
1.1光源采用目前国际流行的脉冲氙灯模拟器光源,用腔体反射装置实现高均匀度的模拟太阳光,从而避免了因稳态阳光模拟器带来的温度对测试结果的影响。
1.2德国进口脉冲氙灯,并配有专用的滤光光学组件,确保测试光源的光谱正确,使用寿命长。
  1.3先进的精密恒光控制技术,辐照不稳定度:±0.5﹪波动范围。
     2.主要部件采用进口件
2.1脉冲氙灯——德国
2.2大电容——日本
2.3开关模块——日本
 
3.设备整机性能优越
3.1、独特技术确保设备性能更稳定,效率更高。
3.2、测试速度快。
3.3、连续24小时不间断工作。
3.4、电池测量采用四线连接,确保测量的准确性。
3.5、结构合理,安装维护更方便简洁。
3.6、各系统和部件合理配置,各部分和整机发挥最高效益。
3.7、控制面板人性化设计,操作简单程序化。
4.专用控制软件
4.1、根据行业特点专门设计,人机界面友好,操作方便。
4.2、特有的原始波形诊断功能。
4.3、严格按照GB/T6495.9---2006/IEC60904-9:1995标准进行温度补偿。
4.4、有语音报数和语音提示功能,提高的生产效率。
5.适用面广
能适应单晶硅、多晶硅等。
 四、适用场地标准:
1.测试场地5m×5m
2.远离振动源、远离强电磁干扰。
3.地面平整洁净少尘。
 4.环境温度:1535℃
 5.总供电电源:单相220V / 50Hz / 2kW
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