X荧光光谱仪应用领域：

●各种电子电器产品RoHS检测

●卤素检测

●镀层厚度分析

X荧光光谱仪软件技术：

●分析元素：Na~U之间元素。

● 分析时间：60~400秒。

● 配置RoHS检测分析模型，无卤分析模型。

● 软件界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作。

● 软件拥有数据一键备份，一键还原功能，保护用户数据安全。

●根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能，客户建立自己的工作模型。