检修用IGBT测试仪加工

检修用IGBT测试仪加工厂家

厂商 :深圳市华科智源科技有限公司

地址 :广东 深圳
主营产品 :IGBT测试仪 功率器件测试仪 首件检测仪
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商品详情描述

IGBT静态参数测试部分主要材料技术要求1)阈值电压测试电路阈值电压测试电路(仅示出IEC标准测试电路)?满足表格9测试参数要求?低压开关电源要求:Vcc=12V (针对上图电路)?可调电源:0.1~10V±1%±0.01V;分辨率0.01V?集电极电流测试电路精度:10~50mA±1%±0.5mA;50~200mA±1%±1mA;200~1000mA±1%±2mA;1000~2000mA±1%±5mA;2)集射极截止电压/集射极截止电流测试电路集射极截止电压/发射极截止电流测试电路?高压充电电源:10~2kV连续可调?支撑电容:额定电压2kV?4硬件模块设备硬件部分应包括测试主机、测试线缆,测试夹具、控制电脑等
*1。集电极电流ICES:0.01~1mA±3%±0.001mA;1~10mA±2%±0.01mA;10~30mA±1%±0.1mA;30~300mA±1%±0.1mA?集电极电压VCES:200~1500V±2%±1V


其中:Vcc 试验电压源±VGG 栅极电压C1 箝位电容Q1 陪测器件(实际起作用的是器件中的续流二极管)L 负载电感 :100uH、200uH、500uH、1000uH自动切换IC 集电极电流取样电流传感器DUT 被测器件关断时间采用单脉冲测试,由计算机设定并控制输出集电极电压VCC值到被测器件的测试要求值(一般为被测器件额定电压的1/2),设定±VGG到测试要求值,开关被测器件DUT一次,检修用IGBT测试仪价格,被测器件的开冲持续时间必须保证DUT完全饱和,同时监测集电极电流IC、栅极-发射极电压VGE和集电极-发射极电压VCE,记录下被测器件IC、VCE以及VGE的波形,其中,VCE采样到示波器的CH1通道,检修用IGBT测试仪,IC取样到示波器的CH2通道,VGE采样到示波器的CH3通道,示波器通过光通讯方式将测试波形传输给计算机,检修用IGBT测试仪加工,由计算机对测试波形进行分析与计算,检修用IGBT测试仪现货供应,后显示测试结果。7测试夹具
1、控制方式:气动控制
2、控温范围:室温—150℃室温—125℃±1。


5、感性负载

5.1 有效电感 L 100 200 500 1000 μH;

5.2 电流 Ic 1000 1000 1000 500 A;

外部电感成阵列的内部连接。(外部电感的H值传给PC,以计算电流源的极限,限制脉宽到1000us)。

6、标准的双控制极驱动

6.1 门极电阻可人工预先设定如:2.5Ω,5Ω,10Ω等;

6.2 开启(Trun-ON)输出电压 Vge+ : +15V;

6.3 关断(Trun-ON)输出电压 Vge- : -15V;

6.4 脉宽: 10 ~ 1000us (单脉冲、双脉冲总时间);

6.5 电压开关时间: < 50ns;

6.6 输出内阻: < 0.5Ω;


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集射极截止电压0~5000V集电极电流ICES:
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